陽江鋁粉形貌SEM分析、粒度分析、粒度分析   通常都指的是對顆粒進行分析。粒度分析的方法和對象非常廣。對易于分解離開的碎屑沉積，通常采用篩析法和沉速法；對固結較緊且又不易解離的碎屑沉積，通常采用薄片鑒定法；對粗大的礫石通常采用直接測量法。根據(jù)分析結果，可推測沉積物的形成條件和環(huán)境。對于不同原理的粒度分析儀器，所依據(jù)的測量原理不同，其顆粒特性也不相同，只能進行等效對比，不能進行橫向直接對比。

顆粒的大小稱為粒度，一般顆粒的大小又以直徑表示 , 故也稱為粒徑。用方法反映出一系列不同粒徑區(qū)間顆粒分別占試樣總量的百分比稱為粒度分布。

晶粒：指單晶顆粒，即顆粒內(nèi)為單相，無晶界。

一次顆粒：指含有低孔隙率的一種獨立的粒子。它能被電子顯微鏡觀察到。

團聚體：是由一次顆粒為降低表面勢能而通過范德華力或固定的橋鍵作用形成的更大顆粒。團聚體內(nèi)含有相互連接的孔隙網(wǎng)絡，它能被電子顯微鏡觀察到。

二次顆粒：指人為制造的粉料團聚粒子。

等效直徑：

不規(guī)則形狀的顆粒，顆粒大小取決于測定方法；

每種測定方法僅表征某種特定的物理參數(shù)（長度，面積，體積，沉降速度等）；

將該被測物理參數(shù)與球形顆粒等效，即為等效直徑；

等效直徑有多種：篩分直徑，Stokes直徑，投影直徑，體積直徑，面積直徑，F(xiàn)eret直徑等；

有相同直徑的顆粒，形狀可能不同；

粒度分布測量需要足夠多的顆粒統(tǒng)計分析

 顯微鏡法(Microscopy)
粒度分析示意圖SEM、TEM；1nm～5μm范圍。適合納米材料的粒度大小和形貌分析。
沉降法(Sedimentation Size Analysis) 　沉降法的原理是基于顆粒在懸浮體系時，顆粒本身重力(或所受離心力)、所受浮力和黏滯阻力三者平衡，并且黏滯力服從斯托克斯定律來實施測定的，此時顆粒在懸浮體系中以恒定速度沉降，且沉降速度與粒度大小的平方成正比。10nm～20μm的顆粒。