作為一款的立式X射線熒光（EDXRF）材料分析儀，CS8800M MAX配置了高功率X射線激發(fā)系統(tǒng)，同時搭配了高計數(shù)率和高分辨率的FSDD探測器，它提供了出色的線性動態(tài)范圍，可在金屬、水泥、礦物、采礦、玻璃和陶瓷中實(shí)現(xiàn)更的過程和質(zhì)量控制。CSX8800M MAX光譜儀主要應(yīng)用于在第三方實(shí)驗(yàn)室及各種需要進(jìn)行材料成分分析的場所。

CS8800M MAX專注于對各種材料的主量，微量和痕量元素或化合物進(jìn)行定性和定量分析，廣泛應(yīng)用于：合金材料，貴金屬，鐵礦粉，有色金屬及粉末，冶金，金屬及非金屬礦物礦產(chǎn)，耐火材料、耐火原料、鈦白粉、石膏、催化劑、陶瓷、水泥、石灰、玻璃行業(yè)、石英、長石、方解石、粘土、巖棉、土壤、固廢、除塵灰、赤坭、粉煤灰、稀土永磁、石油油品、爐渣等生產(chǎn)原料及成品化學(xué)成分定性定量快速分析，快速準(zhǔn)確無損環(huán)保，無需酸堿化學(xué)藥劑

CS8800M MAX應(yīng)用方向

>RoHS篩選測試，有害金屬快速篩查

>石油化工：燃料，潤滑油監(jiān)測，添加劑，磨損金屬等中的硫元素分析

>環(huán)境：廢水，空氣污染，土壤和地面，排放控制

>涂層厚度和薄膜：分析多層涂層，鋼涂層，雜質(zhì)

>刑偵及公安：證據(jù)分析，材料匹配，爆炸物

>食品，化妝品和藥品：添加劑控制，原材料，包裝材料

>科研，高校，材料研發(fā)

產(chǎn)品特點(diǎn)

?配備Peltier電制冷的FSDD硅漂移檢測器不僅具有出色的短期重復(fù)性和長期重現(xiàn)性，而且具有出色的元素峰分辨率

?能同時進(jìn)行元素和氧化物成分分析

?特別設(shè)計的光路和真空系統(tǒng)大大提高了輕元素(Na, Mg, Al, Si, P）的測試靈敏度和準(zhǔn)確性。可同時選配氦氣系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)液體和粉末樣品的直接測試

?八種光路準(zhǔn)直系統(tǒng)，根據(jù)不同樣品大小自動切換，亦可測試樣品不同位置再求平均值，降低樣品不均勻性造成的誤差

?高清內(nèi)置攝像頭，清晰地顯示儀器所檢測的樣品部位

?可搭載樣品自旋平臺，增加樣品檢測面積，提高測試準(zhǔn)確度和精密度。